SATRON VCK – Optical Consistency Transmitter with Kappa & Fiber Length

“SATRON VCK – Kappa & Elyaf Uzunluğu Ölçümü ile Optik Kesafet Transmitteri”

Kağıt Hamuru ve Kağıt Uygulamaları için Çift Parametreli Analizör

SATRON VCK, kağıt hamur ve kağıt (Pulp & Paper) endüstrisindeki zorlu proses uygulamaları için tasarlanmış çok dalga boylu bir optik kesafet transmitteridir. Gerçek zamanlı kesafet ölçümünü tek bir hat içi cihazda kappa sayısı veya elyaf uzunluğuyla birleştirerek gelişmiş proses kontrolü ve kalite optimizasyonu sağlar.

Temel özellikler:

Çift ölçüm: Kesafet+ Kappa veya Kesafet + Elyaf Uzunluğu
Bakım gerektirmeyen optik tasarım (hareketli parça yok)
Modüler ve yeniden yapılandırılabilir yapı
Standartlaştırılmış arayüz ve bağlantı
Daha hızlı proses kontrolü için gerçek zamanlı ölçüm

Prosesiniz için avantajlar:

Proses Optimizasyonu: Delignifikasyonun anında kontrol edilmesini sağlar; hedef elyaf kalitesine ulaşmak için rafinasyon ve eleme işlemlerinin ince ayarını yapmaya yardımcı olur.

Azaltılmış Kimyasal ve Enerji Maliyetleri: Aşırı pişirme veya aşırı ağartmayı önler; aşırı rafinasyonu önleyerek gereksiz enerji kullanımını azaltır.

Tutarlı Hamur Kalitesi: Gerçek zamanlı geri bildirim, anında verilerle hamur özellikleri üzerinde daha sıkı kontrol sağlar.

Proses Değişikliklerine Daha Hızlı Tepki: Laboratuvar sonuçlarını beklemeye gerek kalmaz, hızlı düzeltici eylemlere olanak tanır.

Geliştirilmiş Sürdürülebilirlik: Daha az kimyasal ve su kullanımı, daha düşük emisyon ve atık.

Tipik Uygulamalar

Kimyasal hamurlaştırma (eleme, ağartma, yıkama)
Mekanik hamurlaştırma (TMP, CTMP, GW)
Mürekkebi giderme ve geri dönüştürülmüş elyaf işlemleri
Machine chest and blend chest İzleme